第3节 不合格品数的c图

c 图（见图39）用来测量一个检验批内的不合格（或缺陷）的数量（与描在np 图上的下合格品的数量不同）。c 图要求样本的容量恒定或受检材料的数量恒定，它主要应用于以下两类检验：

·不合格分布在连续的产品流上（例如每匹维尼龙上的瑕疵，玻璃上的气泡或电线上绝缘层薄的点），以及可以用不合格的平均比率表示的地方09 如每100㎡维尼龙上的瑕疵）；

·在单个的产品检验中可能发现许多不同潜在原因造成的不合格（例如：在一个修理部记录，每辆车或元件可能存在一个或多个不同的不合格）。

以下是绘制和应用c 图的步骤，与前面所介绍的p 图的基本绘制方法有相同之处，不同之处介绍如下：

A 收集数据

（参见本章第1 节A 部分，不同之处如下）

·检验样本的容量（零件的数量，织物的面积，电线的长度等）要求相等，这样描绘的c 值将反映质量性能的变化（不合格的发生率c）而不是外观的变化（样本容量n），在数据表中记录样本容量；

·记录并描绘每个子组内的不合格数（c）。

B 计算控制限

（参见本章第1 节B 部分，不同之处如下）

·计算过程不合格数均值（c）：

  c1+ c2+⋯+ cK

c =-------------

        k  

式中：c1，c2⋯为k 个子组内每个子组的不合格数）

·计算控制限（UCLC 和LCLC）

UCLC = c + 3

LCLC = c - 3

C 过程控制解释

（参见本章第1 节C 部分）

D 过程能力解释

（参见本章第1 节D 部分，不同之处如下）

过程能力为c，即固定容量n 的样本的不合格数平均值。