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IATF16949认证辅导---统计过程控制 SPC 参考手册(第IV章 过程测量系统分析/第1节 引言)

第IV章 过程测量系统分析

第1节 引言


当确定了一个给定的过程要测量的特性值后,则应对这个(些)特性的测量系统进行评价从而确保为这个(些)特性而收集的SPC 数据进行有效的分析。回顾由世界上所有的统计学家和质量专家共同发现的基本理论是,观测值由被测特性的真值加上测量误差组成,或:


观测值=真值+测量误差]


“测量误差”是一个统计学术语,意指造成观测值偏离真值的测量变异性的所有原因的净效果。不幸的是,这个关系意味着我们在面临着一个问题:使用包含额外变差的信息(即数据)来对产品作出决定。进一步展开说,在一批(子组)或多批(子组)至少包含两个测量值的一组数据中,整个时间内的总变异由两个相应的部分构成:


总变异=生产变异+测量变异*


减少测量变异对过程变异评价的影响是很重要的。为了理全面地理解测量系统分析的各个方面,请参考由汽车工业行动集团(AIAG)于1990 年12 月出版的汽车工业《测量系统分析(MSA)手册》(附录H,参考文献15)。本节这里介绍是在ASQC 汽车部MSA 手册中介绍的更先进的,同时也得到广泛应用的测量系统分析方法之一。这是在进行统计近程控制之前对测量系统进行评价的一种比较容易接受的方法,但决不意味着这是唯一可接受的MSA 技术。另外,这里介绍的技术假设MSA 手册中介绍的测量系统的其他关键因素即准确度、线性以及稳定性已经评价并认为可以接受。

*参见附录H,参考文献18。

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